Ⅰ 三极管是怎样击穿的
三极管的击穿是指三极管的PN结不能产生压降限制电流的现象。击穿时PN结的温度上升,如果还没有破坏PN结的结构,则造成击穿的条件去除后,PN结的功能能够得到恢复或部分恢复,就可认为不是硬击穿或称为软击穿。若温度上升太高,PN结的结构完全破坏,击穿的条件去除后,PN结的功能就不能得到恢复,这种击穿称为硬击穿。硬击穿的三极管不能正常工作,通常说烧坏了,需要更换。出现软击穿的三极管,性能也已经下降很多,一般也应该进行更换,但应急情况下还可暂时坚持工作,只是随时都可能变成硬击穿而完全不能工作。
软击穿。
最典型的例子就是稳压二极管。它就是工作在二极管反向击穿状态的,只要你设定的工作电流没有超过稳压二极管的允许工作电流,则稳压二极管就不会损坏。
Ⅱ 三极管为什么会被击穿
三极管击穿分为高压击穿和热击穿等,三极管PN结、CE之间正反向都有一定的耐压值,超过其耐压值,三极管被击穿(短路或断路);三极管还有最高工作温度,当工作温度高于此值时,发生热击穿。
Ⅲ 如何用万能表辨别三极管是否被击穿或损坏
用万用表测三个电极(三只引脚)的正反电阻,任何两极电阻小于30欧可以断定三极管已击穿。
用指针式万用表测一般三极管,可将三极管看成两个“首首”相连或“尾尾”相连的二极管来看待,若“首”为正极“尾”为负极,则前者为PNP型,后者为NPN型。用两表笔分别接二极管两端,分别测得两个阻值,一个为几K至几十K,另一个应为无穷大。
电容被击穿则说明电容两极短路,用200Ω档测电阻,如果电阻始终是一个很小的值说明击穿。判断三极管好坏,直接用hfe档测,根据型号对应插入NPN或PNP管座,看hfe值,如果非常小说明内部有开路,如果超过量程,说明C-E间击穿。
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击穿时PN结的温度上升,如果还没有破坏PN结的结构,则造成击穿的条件去除后,PN结的功能能够得到恢复或部分恢复,就可认为不是硬击穿或称为软击穿。
软击穿时装备仍能带“病”工作,性能未发生根本变化,但随时可能造成再次失效。多次软击穿就能造成硬击穿,使电子装备运行不正常。
如果电容的质量不好,内部的电解质发生变化而产生的一种“电容击穿短路”现象,与温度的高低并无直接的关系。关机后电容失去外加电压,自然放电完毕后电解质可暂时复原,容量也可恢复正常。
Ⅳ 三极管怎么会被击穿
所加的工作电压超过了它的极限电压就会被击穿。
Ⅳ 这是电路图,为什么图1的8050三极管在通信的时候很容易被击穿呢
这么改。
Ⅵ 三极管击穿的原因
三极管中有两个不同半导体材料结合部形成的PN结,正常工作电压下,发射结工作在正向偏置,集电结工作在反向偏置,当集电结上的反向电压超过其能够承受的反向电压时,该电压就会将集电结形成的电子阻档层击穿,导致三极管损坏。还有一种击穿是流过集电结的电流过大,引起集电结发热,该反向击穿电压随温度升高耐压降低,形成工作过程中的击穿,这种通常称为热击穿。
三极管,全称应为半导体三极管,也称双极型晶体管、晶体三极管,是一种控制电流的半导体器件·其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号, 也用作无触点开关。
Ⅶ 大侠帮忙分析一下这个电路的三极管什么情况下会被击穿
+=5V,C为电容,1K为电阻,三极管一般不会被击穿但这个电路Q1无负载不对导通时有可能电流击穿 ,这个电路延时时间 R*C
Ⅷ 三极管击穿了,有人给分析下,我有电路图
换高耐压,大电流的
Ⅸ 三极管损坏都有那几种情况
两种:软击穿、硬击穿。
1、三极管的软击穿
击穿时PN结的温度上升,如果还没有破坏PN结的结构,则造成击穿的条件去除后,PN结的功能能够得到恢复或部分恢复,就可认为不是硬击穿或称为软击穿。
2、三极管的硬击穿
若温度上升太高,PN结的结构完全破坏,击穿的条件去除后,PN结的功能就不能得到恢复,这种击穿称为硬击穿。
硬击穿是一次性造成器件的永久性失效,如器件的输出与输入开路或短路。硬击穿的三极管不能正常工作,通常说烧坏了,需要更换。
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放大原理:
1、发射区向基区发射电子
电源Ub经过电阻Rb加在发射结上,发射结正偏,发射区的多数载流子(自由电子)不断地越过发射结进入基区,形成发射极电流Ie。同时基区多数载流子也向发射区扩散,但由于多数载流子浓度远低于发射区载流子浓度,可以不考虑这个电流,因此可以认为发射结主要是电子流。
2、基区中电子的扩散与复合
电子进入基区后,先在靠近发射结的附近密集,渐渐形成电子浓度差,在浓度差的作用下,促使电子流在基区中向集电结扩散,被集电结电场拉入集电区形成集电极电流Ic。也有很小一部分电子(因为基区很薄)与基区的空穴复合,扩散的电子流与复合电子流之比例决定了三极管的放大能力。
3、集电区收集电子
由于集电结外加反向电压很大,这个反向电压产生的电场力将阻止集电区电子向基区扩散,同时将扩散到集电结附近的电子拉入集电区从而形成集电极主电流Icn。另外集电区的少数载流子(空穴)也会产生漂移运动,流向基区形成反向饱和电流,用Icbo来表示,其数值很小,但对温度却异常敏感。
Ⅹ 为什么基极电流过大,三极管会击穿
其一集电极最大允许电流ICM,使用晶体不得超过此电流值;其二集电极—发射极击穿电压BUceo,即基极开路时,加于集电极与发射极的最大允许电压。否则导致管子击穿。其三集电极最大允许耗散功率PM,由于集电极电流在集电极产生热量,使结温升高,超过这一功耗,晶体管可能损坏。
晶体三极管有两个pn结: 发射结和收集结; 分为3个区: 发射区、基区和集电区; 对应引出的3个电极分别称为发射极、基极和集电极; 基区在制作上要比其他两区薄得多,发射区的掺杂要比基区重得多。
在npn型晶体管工作时,发射极加正向偏置,使发射结势垒降低,发射区的电子源源不断地越过pn结注入基区,形成发射电流Ie,这个过程发射区电子的扩散运动起主导作用。
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影响击穿电压的因素主要有:
(1) 电极的形状 ,电极的曲率半径越小,击穿电压越低,越容易放电。
(2)电极的极性,棒状电极对平板电极放电时,当棒状电极带负电时,击穿较困难,击穿电压高,带正电时,击穿电压较低,容易发生击穿。
(3)气体的压强降低或温度升高时,由于电子动能变大,击穿电压降低,容易发生火花放电。
(4) 湿度增加可使击穿电压下降。
(5) 电压的作用时间很短时,击穿电压较高。击穿电压越低,越容易发生火花放电,越容易成为可燃物的点火源。